低溫低氣壓綜合實(shí)驗(yàn)
1范圍
光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法
第5部分:低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)
本部分規(guī)定了低溫與低氣壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。
本部分適用于在高山地區(qū)或飛機(jī)儀表盤上或?qū)椛鲜褂玫墓鈱W(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。
本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到低溫與低氣壓影響的變化程度，包括測(cè)定水的冷凝和凍結(jié)對(duì)儀器或零部件的附加影響.
2.規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T 12085的本部分的引用而成為本部分的條款.凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容〉或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本.
凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分.
GB/T 12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第1部分=術(shù)語、試驗(yàn)范圍(GB/T 12085.1-
2010,ISO 9022-1:1994,MOD)
3試驗(yàn)條件
3.1試驗(yàn)箱〈室〉必須是空氣流通的低氣壓或是商空模擬試驗(yàn)箱〈室)，它可以是低溫、低氣壓的綜合試驗(yàn)箱(室)，也可將低氣壓箱放在低溫室中。試驗(yàn)箱〈室〉的大小及試樣安放的位置，應(yīng)能保證所有試樣都處于均勻的環(huán)境條件下.
3.2在試驗(yàn)箱〈室〉內(nèi)，試樣需先達(dá)到規(guī)定的試驗(yàn)溫度，然后再把箱內(nèi)壓力降到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定值.
3.3按條件試驗(yàn)方法5 1(見4.2)進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，在升壓期間，可用高純氯氣或?qū)υ嚇虞椛浼訜岱椒�，避免試樣上產(chǎn)生結(jié)籍和凝露.
3.4試驗(yàn)箱(室〉內(nèi)的溫度和氣壓的變化應(yīng)緩慢進(jìn)行，以免引起試樣的損壞.
3.5試樣的各個(gè)部分都達(dá)到試驗(yàn)箱(室〉的溫度士3"C之內(nèi)和氣壓達(dá)到規(guī)定值時(shí)暴露周期開始。散熱試樣應(yīng)冷卻到試驗(yàn)溫度，在溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)箱(室〉中試樣的溫度變化在1 h內(nèi)不大于士1"C時(shí)，開始降低氣壓。在降壓過程中，允許試樣自身發(fā)熱，直到試驗(yàn)壓力達(dá)到規(guī)定值時(shí)作為暴露時(shí)間開始。暴露結(jié)束后壓力和溫度的升高同時(shí)開始，箱〈室〉內(nèi)空氣和試樣的溫度都應(yīng)測(cè)量.溫度傳感器在試樣上的位置應(yīng)在有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定，用來測(cè)量箱〈室〉內(nèi)空氣溫度的溫度傳感器的位置應(yīng)在試驗(yàn)報(bào)告中說明.
3.6按條件試驗(yàn)方法50進(jìn)行試驗(yàn)后，試樣在壓力升高過程中產(chǎn)生結(jié)霜和凝露的方法應(yīng)在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定，可在下述方法中選用za)在低氣壓條件下凝露的形成在溫度為一20"C--10"c范圍內(nèi)和氣壓為40 kPa以上的低氣壓范圍內(nèi)，在加熱過程中將水蒸氣注入試驗(yàn)箱〈室〉內(nèi).b)在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境壓力條件下凝露的形成在加熱期間，試驗(yàn)室內(nèi)的壓力調(diào)到標(biāo)準(zhǔn)的環(huán)境壓力，而溫度仍保持在一20.C--10.C之間，由于低溫使水分凝結(jié)在試樣上.
GB/T 12085.5-2010
4條件試驗(yàn)
4.1條件試驗(yàn)方法50:包括霜和露的低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)條件試驗(yàn)方法50包括霜和露的低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)按表1.
4.2條件試驗(yàn)方法51:不包括霜和露的低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)條件試驗(yàn)方法51不包括霜和露的低溫、低氣壓的綜合試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)按表1中01、02、03、04、06、07的規(guī)定。
5試驗(yàn)程序
條件試驗(yàn)方法50的試驗(yàn)程序參見附錄A。
6環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記
環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記應(yīng)符合GB/T 12085.1的規(guī)定。
示例s光學(xué)儀器抗低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)，環(huán)境試驗(yàn)條件方法51、嚴(yán)酷等級(jí)01、工作狀態(tài)1的標(biāo)記為2環(huán)填試驗(yàn)GB/T 12085-51-01-1.
7有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)包括的內(nèi)容
2a)環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記;
b)試樣數(shù)量;
c)條件試驗(yàn)方法50結(jié)霜的起始時(shí)間和產(chǎn)生方法;
d)溫度傳感器在試樣上的位置;
e)預(yù)處理s
f)初始檢測(cè)的內(nèi)容和范圍;
g)工作狀態(tài)2工作周期的確定;
h)工作狀態(tài)2中間檢測(cè)的內(nèi)容和范圍;
i)恢復(fù)F
j)最后檢測(cè)的內(nèi)容和范圍;
k)評(píng)價(jià)判據(jù)z
1)試驗(yàn)報(bào)告的內(nèi)容和范圍.
